螢光X線膜厚計 - EX-731![](images/arrow_sub1.gif)
應用:IC業、電鍍業、電子業、精密工業、PCB業、裝飾業
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採用中文視窗作業系統,操作性簡便
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厚度測量極限:解析度0.001um
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可測試項目:單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學鎳膜厚、 鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、 二層同時測定、元素光譜分析
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油浸式微小焦點X線管,50KV管電壓,由上而下垂直照射方式
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採用多頻分析器,可快速處理能譜分析,可執行測定物之能譜分析表示,操作簡單
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濾波器:採用Co、Ni金屬及數位式濾波器,可單一或同時使用
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准直器:採用5種孔徑一體式之Collimator(可設定任意切換方式)
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自動診斷機能,故障排除對策迅速。附有X線管的使用時間及壽命表示機能,加強保養的安全性