螢光X線膜厚計 - EX-731

   應用:IC業、電鍍業、電子業、精密工業、PCB業、裝飾業
   
   採用中文視窗作業系統，操作性簡便
   厚度測量極限:解析度0.001um
   可測試項目:單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學鎳膜厚、 鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、 二層同時測定、元素光譜分析
   油浸式微小焦點X線管，50KV管電壓，由上而下垂直照射方式
   採用多頻分析器，可快速處理能譜分析，可執行測定物之能譜分析表示，操作簡單
   濾波器:採用Co、Ni金屬及數位式濾波器，可單一或同時使用
   准直器：採用5種孔徑一體式之Collimator(可設定任意切換方式)
   自動診斷機能，故障排除對策迅速。附有X線管的使用時間及壽命表示機能，加強保養的安全性

螢光X線膜厚計 - EX-731